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resolución del sistema de medida del interferómetro del laser 0.05ppm 1nm

Informacion basica

Lugar de origen:	China
Nombre de la marca:	UNIMETRO/CHOTEST
Certificación:	CE
Número de modelo:	SJ6000

Cantidad de orden mínima:	1set
Precio:	Discussible
Detalles de empaquetado:	caja de papel
Condiciones de pago:	T/T
Capacidad de la fuente:	100 meses determinados

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Información detallada

Nombre de producto:	Sistema de medida del interferómetro del laser SJ6000	Gama de medición linear:	los 0~80m
Resolución:	1nm	Exactitud de la frecuencia del laser:	0.05ppm
Temperatura de funcionamiento::	℃ (de 0-40)	Tarifa dinámica de la captura::	50 khz
Resaltar:	sistema de medida del interferómetro del laser 0.05ppm , sistema de medida del interferómetro del laser 1nm , interferómetro de medición de la dislocación 1nm

Descripción de producto

Descripción

El interferómetro del laser se reconoce como alta precisión, alto método de medida sensible aplicando longitud de onda ligera como criterio, y es ampliamente utilizado en ámbito de fabricación de gama alta. El interferómetro del laser SJ6000 insiste del generador de alta frecuencia de un proveedor de los E.E.U.U., módulos ambientales de alta precisión de la remuneración, sistema de alta precisión del tratamiento de señales de interferencia del laser, sistema del laser del Helio-neón de control informático de alto rendimiento. Aplicándose con la tecnología termal de la estabilización de la frecuencia del modo dual-longitudinal del laser y del diseño óptico de la trayectoria de interferencia geométrica de los parámetros, SJ6000 puede hacer salir (0.05ppm) el laser estable y de alta precisión a largo plazo rápidamente (cerca de 6 minutos) que tiene funcionamiento antiinterferente potente. Con diversos módulos de la prisma, puede medir linearidades, ángulo, rectitud, llanura y perpendicularity, además puede analizar características dinámicas. SJ6000 tiene muchas ventajas, tales como alta precisión, gama de alta velocidad, de alta resolución, larga.

Funciones

1. Alta precisión de la medida: La resolución está hasta el nanoscale basado en la tecnología de la interferometría del laser; Con la unidad ambiental de alta precisión de la remuneración, las influencias al resultado de medición de la temperatura ambiente, la presión, la humedad y la temperatura material se eliminan; Puede asegurar la estabilidad a largo plazo de la frecuencia del laser usando el sistema de control termal de la estabilización de la frecuencia del laser; El diseño de separar el interferoscopio del anfitrión evita la distorsión de calor del interferoscopio, que asegura la estabilidad de la trayectoria óptica de interferencia.
2. Puede medir linearidades, ángulo, rectitud, perpendicularity y otros parámetros geométricos; Puede medir la exactitud de colocación linear y repetido colocando la exactitud de los carriles de guía para las máquinas herramientas CNC, las máquinas de medición coordinadas y otros equipos del movimiento de la precisión; Puede medir el ángulo de echada, el ángulo del oscilación, el perpendicularity y la rectitud de los carriles de guía, además puede calibrar el eje rotatorio de máquinas-herramientas.
3. según ajustes de la remuneración del usuario, el sistema genera automáticamente la tabla de la remuneración del error para la calibración de máquinas-herramientas.
4. Con funciones de las medidas dinámicas (curva del dislocación-tiempo, curva del velocidad-tiempo, curva del aceleración-tiempo), medida y análisis de frecuencia, de la amplitud puede analizar la prueba de vibración de la máquina-herramienta, características dinámicas del tornillo de la bola, características de respuesta del sistema de impulsión, características dinámicas del carril de guía y así sucesivamente.
5. estándares nacionales y internacionales incorporados, tales como GB, ISO, BS, ANSI, estruendo, JIS y así sucesivamente. El sistema analiza y procesa datos según estándar relevante, finalmente genera informes de prueba incluyendo la correspondencia talla cartas y datos.
6. Puede adquirir automáticamente los parámetros de la temperatura del ambiente, de la temperatura material, de la humedad del ambiente y de la presión atmosférica. Puede fijar la remuneración ambiental a mano, o por el sistema automáticamente.
7. Con la gestión de bases de datos centralizada para los expedientes de medición, el usuario puede preguntar y manejar los expedientes de medición según la institución del tipo, de la prueba de objeto, el número de fabricación, el inspector, la institución sometida, el número de equipo, la fecha de la inspección y la fecha de entrada en vigor; Puede exportar los datos para redactar, Excel, ficheros (opcionales) de AutoCAD.
8. fácil instalar: Peso básico 15kg, conveniente y portátil.

Parámetros

Artículo	Gama de AXIS	Gama de medición		Exactitud	Resolución
Parámetros de sistema			Sensores ambientales
1. Método de medida: sola frecuencia			1. Sensor de temperatura atmosférico: ℃ de ±0.1℃ (0-40), resolución: 0.01℃
2. Exactitud de la frecuencia del laser: 0.05ppm			2. Sensor de temperatura material: ℃ de ±0.1℃ (0-40), resolución: 0.01℃
3. Tarifa dinámica de la captura: 50kHz			3. Sensor atmosférico de la humedad: el ±5% (0-95%)
4. Tiempo de calentamiento: minuto cerca de 6			4. Sensor de la presión atmosférica: kPa de ±0.1kPa (65~115)
5. Temperatura de funcionamiento: ℃ (de 0-40)
6. Temperatura del ambiente: ℃ (de 0-40), humedad: 0-95%
7. Temperatura de almacenamiento: -20℃-70℃
Medida linear			Medida del ángulo
1. Gama de medición: (0-80) m			1. Gama axial: (0-15) m
2. Exactitud de medición: ℃ 0.5ppm (0-40)			2. Gama de medición: ±10°
3. Resolución de medición: 1nm			3. Exactitud: ″ del ± (los 0.02%R+0.1+0.24M) (R está indicando el valor, unidad: ″; M se mide longitud en m)
4. Velocidad de medición máxima: 4m/s			4. Resolución de medición: 0,1 ″
Medida de la llanura:
1. Gama axial: (0-15) m
2. Gama de medición de la llanura: ±1.5 milímetro
3. Exactitud: μm del ± (0.2%R+0.02M2) (R está indicando valor en μm; M se mide longitud en m)
4. Tamaño del substrato: 180m m ajustable, 360m m ajustables
5. Resolución de medición: los 0.1μm
Medida de la rectitud:
Rectitud corta	(0.1-4) m	±3.0mm		μm del ± (0.5+0.25%R+0.15M2)	los 0.01μm
Rectitud larga	(1-20) m	±3.0mm		μm del ± (5.0+2.5%R+0.015M2)	los 0.01μm
Nota: R está indicando valor en μm; M se mide longitud en metros
Medida de Perpendicularity
Artículo	Gama de AXIS	Gama de medición		Exactitud	Resolución
Rectitud corta	(0.1-3) m	±3.0mm		± (los 2.5+0.25%R+0.8M) μm/m	los 0.01μm
Rectitud larga	(1-15) m	±3.0mm		± (los 2.5+2.5%R+0.08M) μm/m	los 0.01μm
Nota: R está indicando valor en μm; M se mide longitud en metros

etiqueta:

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